Usata Macchine Di Misura A Coordinate

1988 Mauser Zeiss KMZ-P 201612

• Produttore: Mauser

2008 Strumento di misura d'immagine Mitsutoyo QVT1-X606P1L-C

• Produttore: Mitutoyo

Mitutoyo, QV-X302P1L-C, Sistema di misura a visione

• Produttore: Mitutoyo
• Modello: QV-X302P1L-C

Numero di serie.: 000150704 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sistema di misura visivo | Attrezzatura: Sistema di misura visivo | Descrizione: N/A

2011 NIKON, VMR-3020, Microscopio di misura

• Produttore: Nikon
• Modello: Nexiv VMR-3020

Numero di serie.: 1303969 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di misura | Attrezzatura: Microscopio di misura | Descrizione: Corsa 300x200x150mm, lettura minima 0.1㎛

2011 Optima RXT-1200, Misurazione della planarità

• Produttore: Optima

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm

Dea Global S 091208

• Produttore: DEA

Campo di misura (x-y-z): 900- 1.200- 800 | Azionamento: automatico | Accuratezza (µm): 2.9+L/300 | Controllo: originale o retrofit | Software: originale o retrofit

DP/2/S Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

DP/10/S Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

DP/20/P Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

DP/0,5/S Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

AX5/1/SH Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

AX/2,5/S Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

AX/10/SH Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

NIKON VMZ-R3020

• Produttore: Nikon
• Modello: Nexiv VMZ-R 3020

Dimensione del wafer: 8" 12" | Processo: MET | Spedizione: EXW