Building Filters

CYBEROPTICS QX500L, annata 2012, AOI
- Produttore: Cyberoptics
- Modello: QX500L
Estonia- Venditore Fidato

2011 Test Reasearch Inc TR7550
- Produttore: Test Reasearch Inc
Basilea, Svizzera - Venditore Fidato

2011 Orbotech Ultra Discovery VM
- Produttore: Orbotech
- Modello: Discovery
Monaco di Baviera, Germania 
1996 Nanometrics Nanospec8000
- Produttore: Nanometrics
- Modello: Nanospec
Processo: MET | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2007 KOCUSAI VR120_SD
- Produttore: KOCUSAI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di test di resistività | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2011 HMI eScan 400
- Produttore: HMI
- Modello: Escan 400
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti della trave E | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Corea del Sud
1997 KLA AIT
- Produttore: KLA-Tencor
- Modello: AIT
Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH AXI935D
- Produttore: Rudolph
- Modello: AXI 935
Dimensione del wafer: 12" | Processo: AVI | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
2004 RUDOLPH AXI-S
- Produttore: Rudolph
- Modello: AXI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH AXI-S
- Produttore: Rudolph
- Modello: AXI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2008 RUDOLPH MP1-300XCU
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2007 RUDOLPH MP300
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 8" | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2004 RUDOLPH AXI_S
- Produttore: Rudolph
- Modello: AXI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di ispezione macro | Spedizione: EXW
Corea del Sud
