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Usata Valley Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • Produttore: Valley
    • Modello: JVX6200I

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia a raggi X (riflettività a raggi X) | Spedizione: EXW

    Corea del Sud