Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Gyeonggi, Corea del Sud

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8 "

2008 RUDOLPH NSK 105

• Produttore: Rudolph

Spedizione: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• Produttore: HSEB
• Modello: AXIOSPECT 300

Spedizione: EXW

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

2014 Lasertec BGM300

• Produttore: Lasertec

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

HITACHI FB 2100

• Produttore: Hitachi

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12