Usata KLA-Tencor Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Gyeonggi, Corea del Sud

KLA TENCOR, P-15, Profilatore a scansione lunga

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 905001693 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Descrizione: N/A

2010 KLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: 7083372 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Alfa Step IQ | Attrezzatura: Alfa Step IQ | Descrizione: Windows 7 pro

KLA TENCOR, P-10, Profilometro di superficie (Windows DOS)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-10

Numero di serie.: 03970318 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilometro di superficie (Windows DOS) | Attrezzatura: Profilometro di superficie | Descrizione: Windows DOS

KLA TENCOR, P-15, Profilatore di superficie (Windows NT)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 0704120887 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows NT) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows NT

KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler (Windows XP Professional)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 0803105587 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows XP Professional) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows XP Professional

2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: 48130711333 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Wafersight3 | Attrezzatura: Wafersight3 | Descrizione: Wafer 450 mm

2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

2003 KLA, SP3, CONTATORE DI PARTICELLE

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: SP3

Numero di serie.: 45120310476 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: CONTATORE DI PARTICELLE | Attrezzatura: CONTATORE DI PARTICELLE | Descrizione: Wafer 450 mm

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS069 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3