Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C sensor

• Produttore: Balluff

Scala FAGOR COVP-1645

• Produttore: Fagor

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8"

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

HITACHI FB 2100

• Produttore: Hitachi
• Modello: FB-2100

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

1996 BROOKS METARA 7200

• Produttore: Brooks

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SOPRAVVIVENZA | Spedizione: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Produttore: Hitachi
• Modello: RS-6000

Spedizione: EXW

1991 NIKON 3

• Produttore: Nikon

Dimensione del wafer: 5" | Processo: STAZIONE OPTI

2010 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW