Usata Semiconduttori in Corea del Sud

JEOL JWS-7515

• Produttore: Jeol
• Modello: JWS-7515

Dettagli: Ispezione dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer

2000 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

2006 HITACHI IS2700E

• Produttore: Hitachi
• Modello: IS-2700SE

Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Ispezione con fascio E | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Ispezione del fascio E HITACHI IS2700SE

2010 RUDOLPH WS3840

• Produttore: Rudolph
• Modello: WS3840

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Produttore: RODOLPH

Dimensione del wafer: 8 | 3 dimensioni del wafer: 8 " | Spedizione: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• Produttore: PUDOLPH

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

HITACHI S4700-II

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-4700

Dimensione del wafer: 12" | Processo: FESEM con Horriba EMAX EDX | Spedizione: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Processo: SOVRAPPOSIZIONE | Spedizione: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• Produttore: Hitachi
• Modello: RS-4000

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Revisione dei difetti Sem | Spedizione: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE

• Produttore: Kannegiesser-Etech

Processo: AMBITO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

TTS DXL-800HS-CE

• Produttore: TTS

Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Produttore: Nicolet
• Modello: MAGNA 560 FT-IR

Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW