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Corea del Sud
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LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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HP 4145B
- Produttore: HP
- Modello: 4145B
Processo: PARAMETRO DEL SEMICONDUTTORE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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LEICA AG KENSINGTON 300901
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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KEITHLEY KEITHLEY 236
- Produttore: Keithley
- Modello: 236
Dettagli: Unità di misura della sorgente | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: KEITHLEY 236 Unità di misura della sorgente
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WONIK IPS MAHA HP
- Produttore: WONIK IPS
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: WONIK IPS MAHA HP
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2006 SIGMAMELTEC SFG3000
- Produttore: SIGMAMELTEC
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MASCHERA FOTOGRAFICA | Spedizione: EXW
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MPD MSP-2300XPI
- Produttore: MPD
Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Deposizione di wafer | Spedizione: EXW
Anseong, Corea del Sud
2005 TEL ALPHA 303I
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: Alpha-303i
Dimensione del wafer: 12" | Processo: ETCH | Spedizione: EXW
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2000 DNS SS-W80AR
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-W80AR
Dimensione del wafer: 8" | Spedizione: EXW
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