Usata etc in Daedeok-gu, Corea del Sud

E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE

• Produttore: Kannegiesser-Etech

Processo: AMBITO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

TTS DXL-800HS-CE

• Produttore: TTS

Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Produttore: Nicolet
• Modello: MAGNA 560 FT-IR

Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

GYE-12000 GYE-12000

• Produttore: GYE-12000

Dimensione del wafer: 8" | Spedizione: EXW

SVS MSX1000

• Produttore: SVS

Dimensione del wafer: 8" | Spedizione: EXW

KEITHLEY KEITHLEY 236

• Produttore: Keithley
• Modello: 236

Dettagli: Unità di misura della sorgente | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: KEITHLEY 236 Unità di misura della sorgente

GENUS Stratagem300

• Produttore: GENUS

Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: GENERE Stratagemma300

WONIK IPS MAHA HP2

• Produttore: WONIK IPS

Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: WONIK IPS MAHA HP2

DMS I-GEMINUS 6000

• Produttore: DMS
• Modello: I-GEMINUS 6000

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: DMS I-GEMINUS 6000

1992 DISCO DFG-82IF

• Produttore: Disco
• Modello: DFG-82IF8

Processo: Smerigliatrice rotativa per superfici

VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Produttore: Verteq
• Modello: SUPERCLEAN 1600

2010 AXCELIS INTEGRA

• Produttore: Axcelis
• Modello: Integra

Dimensione del wafer: 12"

2011 AXCELIS INTEGRA

• Produttore: Axcelis
• Modello: Integra

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema ES plasma dry strip | Spedizione: EXW`

2010 TEL INDY PLS

• Produttore: Tokyo Electron - TEL

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW