Usata metrologie

KLA TENCOR P-15

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Produttore: Nanometrics
• Modello: Nanospec

Processo: MET | Spedizione: EXW

2011 HMI eScan 400

• Produttore: HMI
• Modello: Escan 400

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti della trave E | Spedizione: EXW

1999 JEOL JSM-5600

• Produttore: Jeol
• Modello: JSM

Dettagli: CD SEM | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JSM-5600 CD SEM

2003 RUDOLPH AXI_S

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti | Spedizione: EXW`

2004 RUDOLPH AXI-S

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW

RUDOLPH AXI935D

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI 935

Dimensione del wafer: 12" | Processo: AVI | Spedizione: EXW`

JEOL JSM-6700F

• Produttore: Jeol
• Modello: JSM

Dettagli: FE SEM | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JSM-6700F FE SEM

2004 TEKTRONIX TEKTRONIX 1765

• Produttore: Tektronix
• Modello: 1765

Processo: ANALIZZATORE VETTORIALE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

2005 RUDOLPH MP-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

NIKON VMZ-R3020

• Produttore: Nikon
• Modello: Nexiv VMZ-R 3020

Dimensione del wafer: 8" 12" | Processo: MET | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3300

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3300

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3500

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3500

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Spedizione: EXW

2001 RUDOLPH MP-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW