Usata metrologie

RUDOLPH MP3_300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3500

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3500

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Spedizione: EXW

2001 RUDOLPH MP-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2004 RUDOLPH AXI_S

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di ispezione macro | Spedizione: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH AXI-S

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3300

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3300

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2004 KLA Viper 2435XP

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: Viper 2435

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2004 KLA VIPER 2430

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: Viper 2430

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2004 KLA Viper 2435

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: Viper 2435

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

SensorX

Principio di misura: Senza contatto, ottico, tridimensionale, Tecnologie: Advanced Focus-Variation, Focus Probing, Vertical Focus Probing | Software: MetMaX: Pianificazione delle misurazioni CAD all'avanguardia, ...