Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• Produttore: Brooks

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SOPRAVVIVENZA | Spedizione: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Produttore: Hitachi
• Modello: RS-6000

Spedizione: EXW

1991 NIKON 3

• Produttore: Nikon

Dimensione del wafer: 5" | Processo: STAZIONE OPTI

2010 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 8 " | Spedizione: EXW

2006 KLA CI T1X0

• Produttore: KLA-Tencor

Spedizione: EXW

1990 KLA SFS7200

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: SFS7200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW

HSEB AXIOTRON 300

• Produttore: HSEB

Spedizione: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Produttore: Kobelco
• Modello: SBW-330

Dettagli: Test e metrologia dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: SBW-330 Test e metrologia dei wafer

2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

• Produttore: Valley
• Modello: JVX6200I

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia a raggi X (riflettività a raggi X) | Spedizione: EXW

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Produttore: LG SEMICON

Processo: 3° ISPEZIONE OTTICA | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW