Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Gyeonggi, Corea del Sud

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8"

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI FB 2100

• Produttore: Hitachi
• Modello: FB-2100

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12