Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

2008 RAYTEX RXW-800

• Produttore: RAYTEX

Dimensione del wafer: 8" | Processo: SCANSIONE DEL BORDO | Spedizione: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Produttore: RODOLPH

Dimensione del wafer: 8 | 3 dimensioni del wafer: 8" | Spedizione: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: MISURARE LO SPESSORE DEL METALLO | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

KLA TENCOR P-15

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Processo: SOVRAPPOSIZIONE | Spedizione: EXW

RUDOLPH FE-4D

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW