Semiconduttori » Metrologia / Ispezione (semiconduttori)

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Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

LINDA IN5-HI
- Produttore: LINDA
Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH FE-3
- Produttore: Rudolph
- Modello: FE-3
Dimensione del wafer: 8" | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2008 RAYTEX RXW-800
- Produttore: RAYTEX
Dimensione del wafer: 8" | Processo: SCANSIONE DEL BORDO | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2006 Micro-Vu Vertex 420
- Produttore: Micro-Vu
Dimensione del wafer: N/A | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Hitachi S4700II
- Produttore: Hitachi
- Modello: S-4700
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW
Corea del Sud
ONTO WV320
- Produttore: Onto
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
PUDOLPH Meta Pluse3
- Produttore: PUDOLPH
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
HITACHI S4700-II
- Produttore: Hitachi
- Modello: S-4700
Dimensione del wafer: 12" | Processo: FESEM con Horriba EMAX EDX | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2003 HITACHI RS 4000
- Produttore: Hitachi
- Modello: RS-4000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Revisione dei difetti Sem | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Produttore: Nanometrics
Dimensione del wafer: 12" | Processo: SOVRAPPOSIZIONE | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2003 HITACHI RS4000
- Produttore: Hitachi
- Modello: RS-4000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Revisione dei difetti Sem | Spedizione: EXW
Corea del Sud

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Visione d'insieme

La metrologia dei semiconduttori riguarda la misurazione e l'analisi di wafer e dispositivi a semiconduttore. Questa categoria include strumenti e attrezzature utilizzati per garantire la precisione e l'accuratezza dei processi di produzione dei semiconduttori. Questi strumenti sono fondamentali per il controllo della qualità, aiutando a rilevare difetti e garantendo che i dispositivi soddisfino rigorosi standard industriali.

FAQ

Quali fattori dovrei considerare quando acquisto attrezzature per la metrologia dei semiconduttori?

Considera la precisione di misurazione, la risoluzione e la compatibilità dell'attrezzatura con i tuoi specifici processi a semiconduttore. Valuta i servizi di supporto del fornitore e la facilità di integrazione dell'attrezzatura nei tuoi sistemi esistenti.

Come posso garantire una spedizione sicura delle attrezzature per la metrologia dei semiconduttori?

Utilizza un servizio di spedizione specializzato con esperienza nella gestione di attrezzature sensibili e ad alta precisione. Assicurati che l'attrezzatura sia ben imballata con un'adeguata ammortizzazione e istruzioni di maneggiamento.

Qual è il programma di manutenzione per le attrezzature di metrologia dei semiconduttori?

La calibrazione e l'ispezione regolari sono essenziali. Segui le linee guida del produttore per la manutenzione preventiva, inclusa la pulizia dei componenti ottici e il controllo degli aggiornamenti software. Mantieni un registro di tutte le attività di manutenzione.