Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

RUDOLPH FE-4D

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• Produttore: Lasertec

Dimensione del wafer: 8" | Processo: SISTEMA DI ANALISI E VISUALIZZAZIONE DELLA SUPERFICIE DEL WAFER | Spedizione: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

Dimensione del wafer: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• Produttore: J.A.WOOLLAM

Dimensione del wafer: 8" | Processo: ELLIPSOMETRO | Spedizione: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: MISURARE LO SPESSORE DEL METALLO | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Produttore: Hitachi
• Modello: HD-2300A

Dimensione del wafer: N/A | Processo: Microscopio elettronico a trasmissione a scansione (STEM) | Spedizione: EXW

KLA TENCOR P-15

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

2011 HITACHI NB-5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: NB5000

Dimensione del wafer: N/A | Processo: FIB Sem | Spedizione: EXW

HITACHI S5500

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5500

Dimensione del wafer: N/A | Processo: FE Sem | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• Produttore: Rudolph

Spedizione: EXW