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Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

  • VEECO, DEKTAK6M, Profilatore di superficie

    VEECO, DEKTAK6M, Profilatore di superficie

    • Produttore: Veeco - Sloan
    • Modello: Dektak

    Numero di serie.: 34542 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore di superficie | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Lunghezza di scansione 50㎛~30 mm, diametro del wafer 150 mm

    Suwon, Corea del Sud
  • KLA TENCOR, P-15, Profilatore a

    KLA TENCOR, P-15, Profilatore a scansione lunga

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: P-15

    Numero di serie.: 905001693 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Descrizione: N/A

    Suwon, Corea del Sud
  • KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler

    KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler (Windows XP Professional)

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: P-15

    Numero di serie.: 0803105587 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows XP Professional) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows XP Professional

    Suwon, Corea del Sud
  • 2010 KLA TENCOR, Alpha Step

    2010 KLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: 7083372 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Alfa Step IQ | Attrezzatura: Alfa Step IQ | Descrizione: Windows 7 pro

    Suwon, Corea del Sud
  • 2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2003 KLA, SP3, CONTATORE DI

    2003 KLA, SP3, CONTATORE DI PARTICELLE

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: SP3

    Numero di serie.: 45120310476 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: CONTATORE DI PARTICELLE | Attrezzatura: CONTATORE DI PARTICELLE | Descrizione: Wafer 450 mm

    Suwon, Corea del Sud
  • 2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

    2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

    • Produttore: Veeco - Sloan
    • Modello: Dektak

    Numero di serie.: 24278 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Passo Alfa | Attrezzatura: Passo Alfa | Descrizione: N/A

    Suwon, Corea del Sud
  • KLA TENCOR, P-15, Profilatore di

    KLA TENCOR, P-15, Profilatore di superficie (Windows NT)

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: P-15

    Numero di serie.: 0704120887 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows NT) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows NT

    Suwon, Corea del Sud
  • 2000 KLA 2139

    2000 KLA 2139

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: 2139

    Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2002 MDC SIGNATION

    2002 MDC SIGNATION

    • Produttore: MDC

    Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2000 KLA UV-1080

    2000 KLA UV-1080

    • Produttore: KLA-Tencor

    Dimensione del wafer: 6", 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • Scala HEIDENHAIN LIDA 325 ML

    Scala HEIDENHAIN LIDA 325 ML 1200

    • Produttore: Heidenhain

    $870 USD
    Saint-Chamond, Francia
  • BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C sensor

    BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C sensor

    • Produttore: Balluff

    $395 USD
    Saint-Chamond, Francia
  • Scala FAGOR COVP-1645

    Scala FAGOR COVP-1645

    • Produttore: Fagor

    $1,103 USD
    Saint-Chamond, Francia
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Visione d'insieme

La metrologia dei semiconduttori riguarda la misurazione e l'analisi di wafer e dispositivi a semiconduttore. Questa categoria include strumenti e attrezzature utilizzati per garantire la precisione e l'accuratezza dei processi di produzione dei semiconduttori. Questi strumenti sono fondamentali per il controllo della qualità, aiutando a rilevare difetti e garantendo che i dispositivi soddisfino rigorosi standard industriali.

FAQ

Quali fattori dovrei considerare quando acquisto attrezzature per la metrologia dei semiconduttori?

Considera la precisione di misurazione, la risoluzione e la compatibilità dell'attrezzatura con i tuoi specifici processi a semiconduttore. Valuta i servizi di supporto del fornitore e la facilità di integrazione dell'attrezzatura nei tuoi sistemi esistenti.

Come posso garantire una spedizione sicura delle attrezzature per la metrologia dei semiconduttori?

Utilizza un servizio di spedizione specializzato con esperienza nella gestione di attrezzature sensibili e ad alta precisione. Assicurati che l'attrezzatura sia ben imballata con un'adeguata ammortizzazione e istruzioni di maneggiamento.

Qual è il programma di manutenzione per le attrezzature di metrologia dei semiconduttori?

La calibrazione e l'ispezione regolari sono essenziali. Segui le linee guida del produttore per la manutenzione preventiva, inclusa la pulizia dei componenti ottici e il controllo degli aggiornamenti software. Mantieni un registro di tutte le attività di manutenzione.