Semiconduttori » Metrologia / Ispezione (semiconduttori)

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Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

  • 1991 KLA SFS7200

    1991 KLA SFS7200

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: SFS7200

    Dimensione del wafer: 8" | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH WV320

    RUDOLPH WV320

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: WV320

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`

    Corea del Sud
  • 2005 VISTEC LWM9000

    2005 VISTEC LWM9000

    • Produttore: Vistec

    Dimensione del wafer: 6" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2010 HITACHI LS9000

    2010 HITACHI LS9000

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: LS9000

    Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 8" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: RS-4000

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: REVISIONE DEI DIFETTI SEM | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2013 HITACHI RS6000

    2013 HITACHI RS6000

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: RS-6000

    Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 1991 NIKON 3

    1991 NIKON 3

    • Produttore: Nikon

    Dimensione del wafer: 5" | Processo: STAZIONE OPTI

    Corea del Sud
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 8" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2006 KLA CI T1X0

    2006 KLA CI T1X0

    • Produttore: KLA-Tencor

    Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 1990 KLA SFS7200

    1990 KLA SFS7200

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: SFS7200

    Dimensione del wafer: 8" | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: IS-3200SE

    Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • HSEB AXIOTRON 300

    HSEB AXIOTRON 300

    • Produttore: HSEB

    Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • JORDANVALLEY JVX6200

    JORDANVALLEY JVX6200

    • Produttore: JORDANVALLEY

    Dimensione del wafer: 12"

    Corea del Sud
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Visione d'insieme

La metrologia dei semiconduttori riguarda la misurazione e l'analisi di wafer e dispositivi a semiconduttore. Questa categoria include strumenti e attrezzature utilizzati per garantire la precisione e l'accuratezza dei processi di produzione dei semiconduttori. Questi strumenti sono fondamentali per il controllo della qualità, aiutando a rilevare difetti e garantendo che i dispositivi soddisfino rigorosi standard industriali.

FAQ

Quali fattori dovrei considerare quando acquisto attrezzature per la metrologia dei semiconduttori?

Considera la precisione di misurazione, la risoluzione e la compatibilità dell'attrezzatura con i tuoi specifici processi a semiconduttore. Valuta i servizi di supporto del fornitore e la facilità di integrazione dell'attrezzatura nei tuoi sistemi esistenti.

Come posso garantire una spedizione sicura delle attrezzature per la metrologia dei semiconduttori?

Utilizza un servizio di spedizione specializzato con esperienza nella gestione di attrezzature sensibili e ad alta precisione. Assicurati che l'attrezzatura sia ben imballata con un'adeguata ammortizzazione e istruzioni di maneggiamento.

Qual è il programma di manutenzione per le attrezzature di metrologia dei semiconduttori?

La calibrazione e l'ispezione regolari sono essenziali. Segui le linee guida del produttore per la manutenzione preventiva, inclusa la pulizia dei componenti ottici e il controllo degli aggiornamenti software. Mantieni un registro di tutte le attività di manutenzione.