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Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

  • HSEB AXIOSPECT 300

    HSEB AXIOSPECT 300

    • Produttore: HSEB
    • Modello: AXIOSPECT 300

    Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2008 RUDOLPH NSK 105

    2008 RUDOLPH NSK 105

    • Produttore: Rudolph

    Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2014 Lasertec BGM300

    2014 Lasertec BGM300

    • Produttore: Lasertec

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2000 RUDOLPH METAPULSE200

    2000 RUDOLPH METAPULSE200

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2005 Rudolph Metapulse 200

    2005 Rudolph Metapulse 200

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2008 Rudolph Metapulse Metapulse II

    2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2004 RUDOLPH METAPULSE200

    2004 RUDOLPH METAPULSE200

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
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