Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Gyeonggi, Corea del Sud

KLA TENCOR, P-15, Profilatore di superficie (Windows NT)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 0704120887 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows NT) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows NT

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8 "

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

HITACHI FB 2100

• Produttore: Hitachi
• Modello: FB-2100

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12