Usata Semiconduttori in Corea del Sud

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Produttore: Jeol
• Modello: JWS-7500E

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Sistema di ispezione dei wafer | Spedizione: EXW

JEOL JWS-7500E

• Produttore: Jeol
• Modello: JWS-7500E

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SISTEMA DI ISPEZIONE DEI WAFER | Spedizione: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-4160

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Spedizione: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Produttore: CARLZEISS

Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Produttore: JORDANVALLEY

Dimensione del wafer: 12"

EXPEDIUS

Dimensione del wafer: 12" | Processo: CLN DUMMY | Spedizione: EXW

LINDA IN5-HI

• Produttore: LINDA

Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

NIDEC IM 15

• Produttore: Nidec-Shimpo

Processo: Ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

RUDOLPH FE-3

• Produttore: Rudolph
• Modello: FE-3

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Produttore: LUMONICS

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Sistema di marcatura laser | Spedizione: EXW`

RUDOLPH WV320

• Produttore: Rudolph
• Modello: WV320

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`

2003 HITACHI RS4000

• Produttore: Hitachi
• Modello: RS-4000

Dimensione del wafer: 12" | Processo: REVISIONE DEI DIFETTI SEM | Spedizione: EXW

IWATANI LNS-1

• Produttore: IWATANI

Dettagli: Fornitore di azoto liquido | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Fornitore di azoto liquido IWATANI LNS-1

2008 RAYTEX RXW-800

• Produttore: RAYTEX

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SCANSIONE DEL BORDO | Spedizione: EXW